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            1. Keithley4200A-SCS參數分析儀泰克

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              TTR500系列矢量網絡分析儀(VNA)泰克

              產品信息

              產品簡述

              Keithley 4200A-SCS 參數分析儀

              使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

              直流電流-電壓
              (I-V) 范圍

              10 aA - 1A
              0.2 μV - 210 V

              電容-電壓
              (C-V) 范圍

              1 kHz - 10 MHz
              ± 30V 直流偏置

              脈沖 I-V
              范圍

              ±40 V (80 V p-p),±800 mA
              200 MSa/s,5 ns 采樣率

              參數查看,快速清晰。



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              大膽發現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%,提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外,嵌入式測量專業知識(業界首創)可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

              特點

              • 內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

              • 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

              • 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

              測量、 切換、 重復。



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              4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

              特點

              • 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

              • 用戶可配置低電流功能

              • 個性化輸出通道名稱

              • 查看實時測試狀態

              檢定、 自定義、 大化。



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              簡單地說,4200A-SCS 可以完全自定義且全面升級,您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執行電氣檢定和評估。

              特點

              • NBTI/PBTI 測試

              • 隨機電報噪聲

              • 非易失內存設備

              • 穩壓器應用測試

              帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。



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              4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

              特點

              • “點擊”測試定序

              • “手動”探測器模式測試探測器功能

              • 假探測器模式無需移除命令即可實現調試

              降低成本并保護您的投資

              吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或撥打一個電話即可獲得維修服務,在此過程中,無需報價或填寫采購單,也不會有審批延誤。

              了解詳情

              產品技術資料型號說明價格
              查看規格書4200A-SCS-PK1 
              高分辨率 IV 套件
              210V/100mA,0.1 fA 分辨率 
              對于兩端和三端設備,MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括:
              • 4200A-SCS 參數分析儀

              • (2) 4200-SMU 模塊

              • (1) 4200-PA 前置放大器

              • (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備

              索取報價
              查看規格書4200A-SCS-PK2 
              高分辨率 IV 和 CV 套件
              210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 
              對于高 K 電解質,深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括:
              • 4200A-SCS 參數分析儀

              • (2) 4200-SMU 模塊

              • (1) 4200-PA 前置放大器

              • (1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

              • (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備

              索取報價
              查看規格書4200A-SCS-PK3 
              高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件
              210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 
              對于功率設備、高 K 電解質,深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括:
              • 4200A-SCS 參數分析儀

              • (2) 4200-SMU 模塊

              • (2) 4210-SMU

              • (1) 4200-PA 前置放大器

              • (1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

              • (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備

              索取報價
              查看規格書4200-BTI-A 
              超快 NBTI/PBTI 套件
              用于使用尖端 CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括:
              • (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊

              • (2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊

              • 自動化檢定套件 (ACS) 軟件

              • 超快 BTI 測試項目模塊

              • 電纜

              索取報價


              產品鏈接:http://www.iydu-network.org/TK4200JSFXY


              泰克AWG70000任意波形發生器
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